摘要: 为拓展加速器质谱技术（ＡＭＳ）测量范围及测量放射性核束成分，建立了利用入射离子发射特征Ｘ射线鉴别同量异位素的方法，开展了利用ＡＭＳ测量重核离子束成分的工作。用此方法可将测量７９Ｓｅ时的同量异位素干扰７９Ｂｒ压低２个数量级。对将用于６４Ｃｕ放射性束实验的铜靶离子束成分进行了分析。