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可逆流体换向装置内部流场的数值模拟
高明媛, 徐聪, 景山
2010, 44(1): 1-8. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0001
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2H(6He, 7Li)n反应角分布和7Li的质子谱因子
李二涛, 李志宏, 李云居, 颜胜权, 郭冰, 苏俊, 王友宝, 王宝祥, 曾晟, 连钢, 白希祥, 方晓, 柳卫平, 赵维娟
2010, 44(1): 9-13. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0009
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合成榍石的化学稳定性
滕元成, 曾冲盛, 任雪潭, 徐会杰, 李玉香
2010, 44(1): 14-19. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0014
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钕在钙钛锆石和榍石组合矿物中的固溶机制
徐会杰, 李玉香, 滕元成, 任雪谭, 蒋友新
2010, 44(1): 20-24. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0020
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西安脉冲堆水净化系统混床废树脂的性能变化
李华, 马燕, 肖艳, 刘月恒, 杨永青
2010, 44(1): 25-29. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0025
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大阶跃反应性下考虑燃料温度反馈时的中子倍增公式
郝建立, 王少明, 王子义, 章德
2010, 44(1): 30-33. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0030
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组合阀步降流道三维流场数值分析
秦本科, 薄涵亮, 郑文祥, 王大中
2010, 44(1): 34-39. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0034
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核电厂管线中的温度振荡现象研究
陆道纲, 李向宾, 冯预恒
2010, 44(1): 40-43. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0040
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浮动式核电站专用控制器中CPU冗余技术研究
王鼎, 李铎
2010, 44(1): 44-47. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0044
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核电站主蒸汽隔离阀气流诱发振动与噪声的数值分析
徐峥, 王德忠, 王志敏, 张继革, 陈汉平
2010, 44(1): 48-53. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0048
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聚变裂变混合堆钍基增殖锕系元素嬗变包层中子学初步研究
马续波, 陈义学, 王悦, 张斌, 杨寿海, 韩静茹, 张普忠, 石生春
2010, 44(1): 54-59. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0054
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Zr-Sn-Nb薄片合金高温低周疲劳行为
黄学伟, 蔡力勋, 包陈, 谭军
2010, 44(1): 60-64. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0060
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秦山核电厂反应堆保护系统及其相关设备数字化改造规划和实施策略
蒋祖跃
2010, 44(1): 65-69. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0065
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236U灵敏度的AMS测量
管永精, Filippo Terrasi, Mario De Cesare
2010, 44(1): 70-74. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0070
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用GUPIXWIN软件解谱的PIXE分析系统刻度
于令达, 王广甫, 朱光华
2010, 44(1): 75-79. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0075
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样品厚度对实验室无源效率刻度技术测定137Cs和210Pb的影响
李勇, 耿肖臣
2010, 44(1): 80-83. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0080
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中子超镜的优化设计
张众, 王占山, 吴永荣, 陈玲燕
2010, 44(1): 84-88. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0084
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MCNP计算含肿瘤Snyder修正头部模型的硼中子俘获治疗剂量
鱼红亮, 郑传城, 孙亮
2010, 44(1): 89-94. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0089
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冲击波平面性、稳定性实验用双边多台阶Al靶制备
谢军, 邢丕峰, 易泰民, 杨蒙生, 孙涛, 袁光辉, 郑凤成
2010, 44(1): 95-99. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0095
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横向场气体电离室信号模拟
章学恒, 孙志宇, 李琛, 胡正国, 余玉洪, 鲁辰桂
2010, 44(1): 100-104. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0100
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新型放射性气溶胶总β测量组合探测器设计
张军民, 周剑良, 凌球, 屈国普, 王喜宗
2010, 44(1): 105-109. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0105
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电荷耦合器件质子辐照效应研究
唐本奇, 刘敏波, 王祖军, 肖志刚, 张勇, 黄绍艳, 任晓堂, 巩玲华
2010, 44(1): 110-113. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0110
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工艺条件对双极晶体管低剂量率辐射损伤增强效应的影响
陆妩, 郑玉展, 任迪远, 郭旗, 余学峰
2010, 44(1): 114-120. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0114
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64K CMOS随机存储器瞬时辐射损伤模式分析
王桂珍, 郭晓强, 李瑞斌, 白小燕, 杨善潮, 林东生, 龚建成
2010, 44(1): 121-123. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0121
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电荷耦合器件的60Co γ射线和电子辐射损伤效应
李鹏伟, 郭旗, 任迪远, 于跃, 王义元, 高博
2010, 44(1): 124-128. DOI: 10.7538/yzk.2010.44.01.0124
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