摘要: 借助金硅面垒型半导体探测器和裂变室对固体径迹探测器以2π立体角探测裂变碎片的效率进行了刻度。给出了天然白云母、聚碳酸酯(我国朝阳塑料厂产品和Makrofol K)、聚酯、石英、硅酸盐玻璃和磷酸盐玻璃对薄裂变源的探测效率和记录裂变碎片径迹的平均临界角。对探测效率进行了反散射修正,描述了用固体径迹探测器进行反散射修正的方法。讨论了由于固体径迹探测器临界角的存在对厚裂变源自吸收修正产生的影响,给出了固体径迹探测器探测厚裂变源效率的公式。