摘要: 为了准确分析F-3电磁分离器改进垫片场的聚焦特性,本文讨论了准二维准平面对称磁场的空间场分布和离子轨迹计算问题。指出,对类似F-3分离器实际场分布的准二维准平面对称磁场,利用本文绘出的边值方法得到的场分布准确到1.5×10~(-4);在该场分布基础上,利用龙格-库塔方法(场值由三元二次27点插值计算)得到的轨迹准确到0.1毫米。当然,若边值测量准确度比方法本身的准确度低,那么得到的场分布准确度将受到测量准确度的限制。但即使如此,如测量准确度为0.001,得到的场分布准确度仍比传统方法要高一个数量级,满足聚焦特性分析的要求。 方法同样可以用于解决准轴对称准平面对称磁场的场分布和轨迹计算问题。