摘要: 本文介绍了应用我们研制的金-硅面垒型半导体α谱仪测定~(23弛)Np产品中杂质Pu的方法和精度,分析鉴定离子交换分离的半成品(~(241)Am,~(242)Cm;Pu和~(241)Am)质量的方法及其方法的灵敏度和精度。本方法对两种成分α放射性比例相近,样品的分析精度小于2％。 此外,还介绍了定量测定电沉积样品衰变率的方法,其测量精度小于2％。