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应用几种谱仪测定大量~(242)Cm中的少量~(241)Am

    摘要
  • 摘要: 本文介绍了用Si(Li)谱仪,Ge(Li)谱仪和α-γ符合谱仪测定大量~(242)Cm中少量~(241)Am杂质的方法。描述了三种方法的特点,并比较了它们的测量灵敏度和准确度。

     

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