对特殊结构金硅面垒探测器反常现象的分析

  • 摘要: <正> 我们对上文中的实验现象作如下分析。 这是由于探测器背面欧姆接触电极的面积比正面金硅表面势垒面积小,使探测器构成相互独立、性能完全不同的并联在一起的两个探测区域造成的(示意于图1)。我们把位于中心区部分称为A区域,另一部分是边缘的圆环,称为B区域。

     

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