摘要: 本文叙述了用X光激发的光学荧光分析技术测定二氧化锆和锆合金中微量稀土元素Sm,Eu,Gd和Dy。将K_2CO_3,Sr(NO_3)_2,ZrO_2和WO_3按克分子比1∶2∶5∶3混合,于1000℃灼烧两小时生成组成为K_2O·2 SrO·5 ZrO_2·3 WO_3的四元氧化物磷光体。在X光照射下,磷光体中的稀土元素发出线状荧光光谱,记录此荧光强度以测定样品中稀土元素的含量。 本文研究了磷光体制备和测量的适宜条件。在给定的条件下,标准曲线的测定下限能达到:Sm,Dy———0.15 ppm;Eu,Gd——0.3 ppm。