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光电倍增管抗饱和门电路的研制及其性能的检测实验
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本文介绍一种光电倍增管抗饱和门电路,经过详细的检测实验,证明它具有干扰小、开关比高、体积小和增益不减的优点,并且可以同光电倍增管共用一个高压电源。对需要保持高压状态下不至疲劳和饱和的各种实验,特别是在核测量和高温等离子体诊断中,具有普通的使用价值。
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