摘要: 本文叙述了一种适合于较浓溶液的进样——去溶装置,考察了ICP光源主要工作参数对谱线△s的影响,观察了ICP光源中的基体效应和共存元素的干扰,为金属钙中杂质元素的测定选择折衷工作条件。方法无需分离,简便、快速。方法的检测范围为:Mg——50—5000 ppm;Al——30—3000 ppm;Na——16—1600 ppm;Si、Fe、Cr、Ni——10—1000 ppm;Cu、Mn——3—300 pPm,方法的标准偏差为 4—10％,回收率为 92—104％。