摘要: 本工作采用 0.4 mm宽的窄电离带,减小了由于电离带表面高温热辐射引起的本底干扰。在电离带和样品带的加热电流分别为 4.0 A和1.8 A条件下,用 5μg氧化铁样品可以获得10~(-13)A稳定的离子束流近1小时。用这种方法测定了电磁分离器生产的各种浓缩铁同位素产品的丰度,测定精度为0.1％。