摘要: 文章概述自行研制的两次全反射ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）能谱分析仪的结构和性能。该谱仪使用与之配套而开发的ＳＰＡＮ／ＸＲＦＶ４．ｏｘ射线谱处理软件。实验测试结果表明：对原子序数Ｚ＞ｌ６的大部分元素的探测下限可达１０￣（－１０）ｇ。该能谱分析仪为测定动力堆乏燃料元件溶解液中的不溶残渣的化学元素而研制，但可推广用于痕量元素分析的诸多研究和应用领域。