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用X射线荧光分析技术测定镀、包金层的厚度

DEFLUORINATION PROBLEM WITH THE CONVERTING P ROCESS OF ADU TO UO2 POWDER

    摘要
  • 摘要: 把Ｘ射线荧光分析和低能γ射线散射技术相结合，准确地测量了镀、包金制品的镀、包金层厚度。可测定的最大镀、包层厚度为７０μｍ，测量准确度好于１０％。

     

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