摘要: 用屏栅电离室对α、ｔ和ｐ在Ａｒ与Ｋｒ中到达电离密度重心的径迹长度Ｘ进行了测量，并根据Ｔｒｉｍ程序和其它文献的阻止本领数据对其进行了计算。理论值与实验结果符合较好。