二维辐射成像中空间分辨率的研究

  • 摘要: 阐述了在二维辐射成像系统中不改变探测器物理尺寸而提高空间分辨率的方法。讨论了几何放大法、阵列探测器微位移法,并提出了一种新的方法——扫描微分法。该方法应用在60Co集装箱检测系统中取得了良好效果。

     

/

返回文章
返回